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測定方式：電磁・渦電流式兼用（自動判別機能付き）　|　測定対象：磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の絶縁被膜　|　測定範囲：０ー２０００μｍ　…

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ケツト科学研究所 デュアルタイプ膜厚計「エスカル」　ＬＺ−９９０ 【A0EP-9405】
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更新日:2026/06/25

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商品説明

商品仕様
測定方式
電磁・渦電流式兼用（自動判別機能付き）
測定対象
磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲
０ー２０００μｍ
測定精度
５０μｍ未満±１μｍ、５０μｍ以上１０００μｍ未満±２％１０００μｍ以上２０００μｍ未満±３％
適合規格
電磁誘導式／ＪＩＳ　Ｋ５６００−１−７、ＪＩＳ　Ｈ８５０１、ＪＩＳ　Ｈ０４０１・ＩＳＯ　２８０８、ＩＳＯ　２０６４、ＩＳＯ　１４６０、ＩＳＯ　２１７８、ＩＳＯ　１９８４０・ＢＳ　３９００−Ｃ５・ＡＳＴＭ　Ｂ　４９９、ＡＳＴＭ　Ｄ　７０９１−５、ＡＳＴＭ　Ｅ　３７６渦電流式／ＪＩＳ　Ｋ５６００−１−７、ＪＩＳ　Ｈ８６８０−２、ＪＩＳ　Ｈ８５０１・ＩＳＯ　２８０８、ＩＳＯ　２３６０、ＩＳＯ　２０６４、ＩＳＯ　１９８４０・ＢＳ　３９００−Ｃ５・ＡＳＴＭ　Ｄ　７０９１−５、ＡＳＴＭ　Ｅ　３７６
単位
１台

メーカー情報
メーカー名
ケツト科学研究所
メーカー品番
ＬＺ−９９０

カタログ掲載ページ

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ＬＺ−９９０　デュアルタイプ膜厚計

入数 １台 販売価格 ￥163,900(税込)

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