ウェハー・基板
ウェハー・基板の通販ならカウネット。「クリスタルベース 単結晶基板 天然マイカ基板（Ｖ−４グレード） １５×１５×０．１５ｍｍ 天然マイカー□１５−１０ １箱（１０枚）」、「クリスタルベース 単結晶基板 天然マイカ基板（Ｖ−４グレード） ２５×２５×０．１５ｍｍ １０枚入」、「アズワン 単結晶ＳｉＣウェハ ４インチ・４Ｈ−Ｎ−ＺＭＰ」など、取扱商品は335点ご用意しております。2,500円（税込）以上のご注文で送料当社負担。最短当日または翌日以降にお届け。
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クリスタルベース 単結晶基板 天然マイカ基板（Ｖ−４グレード） １５×１５×０．１５ｍｍ 天然マイカー□１５−１０ １箱（１０枚）
天然白雲母です。成膜用基板やＡＦＭ観察用などに使用されています。
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クリスタルベース 単結晶基板 天然マイカ基板（Ｖ−４グレード） ２５×２５×０．１５ｍｍ １０枚入
天然白雲母です。成膜用基板やＡＦＭ観察用などに使用されています。
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アズワン 横罫Ａ４ノート（クリーンルーム用／３２マイ／１０冊） ＥＡ７６２ＧＣ−１５４
１００％離解不能な樹脂含浸タイプの無塵紙を使用。使用後は古紙として再生可能。
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桜井 クリーンルーム用無塵紙Ａ５ スタクリン １冊（５００枚入） ピンク ＳＣ７５ＲＰ
０．１μｍ以上の紙粉がほとんど発生しないことが確認されています。水性・油性ペンで書き込みが可能です。リサイクル可能な無塵紙です。
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桜井 クリーンルーム用無塵紙Ａ５ スタクリン １冊（５００枚入） ホワイト ＳＣ７５ＲＷ
０．１μｍ以上の紙粉がほとんど発生しないことが確認されています。水性・油性ペンで書き込みが可能です。リサイクル可能な無塵紙です。
０．１μｍ以上の紙粉がほとんど発生しないことが確認されています。水性・油性ペンで書き込みが可能です。リサイクル可能な無塵紙です。＋もっと見る
アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ０．５インチ両面ミラー ４０枚入 ０．５×Ｐ型
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ０．５インチ両面ミラー ４０枚入 ０．５×Ｎ型
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ２×Ｎ型 ２−９６０−１２
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ２×Ｐ型 ２−９６０−１１
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ２５枚入 １２×Ｐ型
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ２５枚入 ８×ＰＮ不問
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ３×Ｎ型 ２−９６０−１４
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ３×Ｐ型 ２−９６０−１３
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ４×Ｎ型 ２−９６０−１６
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ４×Ｐ型 ２−９６０−１５
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ４×Ｐ型（低抵抗） ２−９６０−１７
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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アズワン 研究用高純度シリコンウェハー ４×Ｐ型（高抵抗） ２−９６０−１８
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
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クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＡ）基板 両面劈開 １０×１０×１．０ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＡ）基板 両面劈開 １０×１０×１．５ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
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クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＢ）基板 両面劈開 １０×１０×１．５ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＢ）基板 両面劈開 １０×１０×１．０ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×２．０ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×１．５ｍｍ ５枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×２．０ｍｍ ５枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×１ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×１ｍｍ ５枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
クリスタルベース 高配向性黒鉛（ＨＯＰＧ−ＺＹＨ）基板 両面劈開 １０×１０×１．５ｍｍ １枚
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。
平坦な劈開面を持つ試料は、ＳＴＭやＡＦＭに利用され、メンディングテープで剥がすと新鮮な表面が得られます。両面劈開可能です。＋もっと見る
アズワン １２インチシリコンウェハ 研究用 ［Ｎ（１００），低抵抗（≦０．０２Ω）両面ミラーＤＦ品 ２５枚
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン １２インチシリコンウェハ 研究用 ［Ｎ（１００），１−１００Ω，］ 両面ミラーＤＦ品 ２５枚
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン １２インチシリコンウェハ 研究用 ［Ｐ（１００），１−１００Ω，］ 両面ミラーＤＦ品 ２５枚
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン ２インチシリコンウェハ 研究用 ［Ｐ（１００），１−１００Ω，］ 片面ミラーＤＦ品 ２５枚
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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アズワン ３インチシリコンウェハ 研究用 ［Ｐ（１００），１−１００Ω，］ 片面ミラーＤＦ品 ２５枚
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
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