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サンコウ電子研究所の通販｜カウネット
膜厚計の通販ならカウネット。「サンコウ電子研究所 ピンホール探知器」、「サンコウ電子研究所 ピンホール探知器」、「サンコウ電子研究所 ピンホール探知機 簡易タイプ」など、取扱商品は201点ご用意しております。2,500円（税込）以上のご注文で送料当社負担。最短当日または翌日以降にお届け。
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サンコウ電子研究所 サンコウ プローブ一体型デュアルタイプ膜厚計 ＳＡＭＡＣ−ＦＮ ＳＡＭＡＣＦＮ １台
手のひらサイズのコンパクトボディです。操作も簡単でわかりやすいガイド表示です。暗所でも使いやすいバックライト付です。自動車、船舶、橋梁、鋼構造物などの塗装膜厚の測定。
手のひらサイズのコンパクトボディです。操作も簡単でわかりやすいガイド表示です。暗所でも使いやすいバックライト付です。自動車、船舶、橋梁、鋼構造物などの塗装膜厚の測定。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 サンコウ プローブ一体型デュアルタイプ膜厚計 ＳＡＭＡＣ−ＰＲＯ ＳＡＭＡＣＰＲＯ １台
手のひらサイズのコンパクトボディです。操作も簡単でわかりやすいガイド表示です。暗所でも使いやすいバックライト付です。パソコンへのデータ転送機能、統計機能、上下限リミット付です。
手のひらサイズのコンパクトボディです。操作も簡単でわかりやすいガイド表示です。暗所でも使いやすいバックライト付です。パソコンへのデータ転送機能、統計機能、上下限リミット付です。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 デュアルタイプ膜厚計 ＳＡＭＡＣ−ＦＮ 研究用 計測器 物性 膜厚計 １個
素地を自動判別できる、デュアルタイプの一体型膜厚計です。
素地を自動判別できる、デュアルタイプの一体型膜厚計です。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 デュアルタイプ膜厚計 ＳＡＭＡＣ−Ｐｒｏ 研究用 計測器 物性 膜厚計 １個
素地を自動判別できる、デュアルタイプの一体型膜厚計です。
素地を自動判別できる、デュアルタイプの一体型膜厚計です。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ピンホール探知器 小型軽量タイプ 電圧５ー１５ｋＶ ホリスター１５Ｎ １個
下記対象、条件のピンホール探知に適します。▼部分検査（接続部、部品取付け部、加工変形部、内面、底面など重点検査）。▼補修検査（塗り換え、修復部の再塗装、定期的保安点検など）。
下記対象、条件のピンホール探知に適します。▼部分検査（接続部、部品取付け部、加工変形部、内面、底面など重点検査）。▼補修検査（塗り換え、修復部の再塗装、定期的保安点検など）。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ピンホール探知器 小型軽量タイプ 電圧１−５ｋＶ
下記対象、条件のピンホール探知に適します。▼部分検査（接続部、部品取付け部、加工変形部、内面、底面など重点検査）。▼補修検査（塗り換え、修復部の再塗装、定期的保安点検など）。▼比較的小形物の全面検査（
下記対象、条件のピンホール探知に適します。▼部分検査（接続部、部品取付け部、加工変形部、内面、底面など重点検査）。▼補修検査（塗り換え、修復部の再塗装、定期的保安点検など）。▼比較的小形物の全面検査（＋もっと見る
サンコウ電子研究所 渦電流式膜厚計 渦電流式標準プローブ付き
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 電磁式プローブＳＮＦｅ−２．０のセット非鉄金属素地の膜厚測定が可能
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 電磁式プローブＳＮＦｅ−２．０のセット非鉄金属素地の膜厚測定が可能＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計 本体 測定値メモリ４００００点
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能測定値が４００００点本体メモリ可能統計演算機能付きチルトスタンド装備ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能測定値が４００００点本体メモリ可能統計演算機能付きチルトスタンド装備ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計 本体 ＵＳＢ出力付き ＳＷＴ−ＮＥＯ
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能チルトスタンド装備４つのキーで簡単操作ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能チルトスタンド装備４つのキーで簡単操作ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計（デュアルタイプ膜厚計）プローブ付き
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 両用プローブＳＦＮ−３２５のセット鉄・非鉄金属素地の膜厚測定が可能鉄・非鉄金属素地の自動判別
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 両用プローブＳＦＮ−３２５のセット鉄・非鉄金属素地の膜厚測定が可能鉄・非鉄金属素地の自動判別＋もっと見る
サンコウ電子研究所 マイクロチェッカー ２６０×９９×２３０ｍｍ ＫＳ１ １個
水を抵抗媒体としたピンホール検査、または塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査。低電圧検査では得られない特色。
水を抵抗媒体としたピンホール検査、または塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査。低電圧検査では得られない特色。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 一体型両用膜厚計 単機能型 ＳＡＭＡＣ−ＦＮ （タンキノウガタ）
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 一体型両用膜厚計 高機能型 ＳＡＭＡＣ−ＰＲＯ（コウキノウガタ）
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。測定値・検量線メモリ機能付き。ＰＣへのデータ出力機能付き。
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。測定値・検量線メモリ機能付き。ＰＣへのデータ出力機能付き。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ＳＷＴ−ＮＥＯ専用 鉄用 電磁式狭小部用ペンシルプローブ ＳＦｅ−０．６Ｐｅｎ
鉄素地用狭小部プローブ狭い箇所・小さい部位の膜厚測定が可能です
鉄素地用狭小部プローブ狭い箇所・小さい部位の膜厚測定が可能です＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ＳＷＴ−ＮＥＯ専用 電磁・渦電流式 鉄・非鉄両用プローブ
鉄・非鉄金属素地上の膜厚測が可能です鉄・非鉄金属素地の自動判別可能なデュアルプローブ
鉄・非鉄金属素地上の膜厚測が可能です鉄・非鉄金属素地の自動判別可能なデュアルプローブ＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ピンホール探知器 電圧０．３ー５ｋＶ ＴＯ−５ＤＰ １個
フッ素樹脂など数百マイクロ以下の比較的薄い皮膜のピンホール探知に用いられるパワーの低い直流高電圧式の探知器です。電子機器、精密機器等の薄い絶縁性皮膜のピンホール探知、欠陥検査に有効です。
フッ素樹脂など数百マイクロ以下の比較的薄い皮膜のピンホール探知に用いられるパワーの低い直流高電圧式の探知器です。電子機器、精密機器等の薄い絶縁性皮膜のピンホール探知、欠陥検査に有効です。＋もっと見る
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