- ホーム
- メーカー・ブランド名検索
- さ行
- 「さ」から始まるメーカー
- サンコウ電子研究所
- 2ページ目
サンコウ電子研究所の通販｜カウネット（2ページ中2ページ目）
サンコウ電子研究所の通販｜カウネット（2ページ中2ページ目）
サンコウ電子研究所は研究用計測機器、食品事業用衛生管理、計測機器などの商品を取り扱っているメーカーです。サンコウ電子研究所の商品を142点ご用意しております。
89件(142商品)中 51〜89件を表示中
- 並べ替え：
- 表示件数：
- 並べ替え：
- 表示件数：
条件で絞り込む
商品の状態で絞り込む
カテゴリで絞り込む
価格(税込)で絞り込む
商品の種類で絞り込む
商品の種類で絞り込む
サンコウ電子研究所 金属探知器 Ｄｅｃ−Ａ
すべての金属に反応する高感度の金属探知器です。異物混入の検査や品質管理、金属製装身具の簡易チェック、廃棄物の金属除去・分別などに有効です。単３アルカリ電池２本使用で約６０日間使用可能です。
すべての金属に反応する高感度の金属探知器です。異物混入の検査や品質管理、金属製装身具の簡易チェック、廃棄物の金属除去・分別などに有効です。単３アルカリ電池２本使用で約６０日間使用可能です。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電気式水分計 ＭＲ−２００２ 本体 ＭＲ−２００ＩＩ 計測 水分計 １台
オプションのプローブ（ＴＧ−ＰＡ・ＫＧ−ＰＡ・ＰＭ−ＰＡ）を付け替える事により各種水分測定に対応します。
オプションのプローブ（ＴＧ−ＰＡ・ＫＧ−ＰＡ・ＰＭ−ＰＡ）を付け替える事により各種水分測定に対応します。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計 本体 測定値メモリ４００００点
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能測定値が４００００点本体メモリ可能統計演算機能付きチルトスタンド装備ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能測定値が４００００点本体メモリ可能統計演算機能付きチルトスタンド装備ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計 本体 ＵＳＢ出力付き ＳＷＴ−ＮＥＯ
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能チルトスタンド装備４つのキーで簡単操作ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能チルトスタンド装備４つのキーで簡単操作ＵＳＢ接続でＰＣへデータ転送が可能＋もっと見る
サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計（デュアルタイプ膜厚計）プローブ付き
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 両用プローブＳＦＮ−３２５のセット鉄・非鉄金属素地の膜厚測定が可能鉄・非鉄金属素地の自動判別
本体ＳＷＴ−ＮＥＯ 両用プローブＳＦＮ−３２５のセット鉄・非鉄金属素地の膜厚測定が可能鉄・非鉄金属素地の自動判別＋もっと見る
サンコウ電子研究所 マイクロチェッカー ２６０×９９×２３０ｍｍ ＫＳ１ １個
水を抵抗媒体としたピンホール検査、または塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査。低電圧検査では得られない特色。
水を抵抗媒体としたピンホール検査、または塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査。低電圧検査では得られない特色。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 一体型両用膜厚計 単機能型 ＳＡＭＡＣ−ＦＮ （タンキノウガタ）
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 一体型両用膜厚計 高機能型 ＳＡＭＡＣ−ＰＲＯ（コウキノウガタ）
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。測定値・検量線メモリ機能付き。ＰＣへのデータ出力機能付き。
素地金属を自動で判別し測定。バックライトで暗所での測定も可能。測定値・検量線メモリ機能付き。ＰＣへのデータ出力機能付き。＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ＳＷＴ−ＮＥＯ専用 鉄用 電磁式狭小部用ペンシルプローブ ＳＦｅ−０．６Ｐｅｎ
鉄素地用狭小部プローブ狭い箇所・小さい部位の膜厚測定が可能です
鉄素地用狭小部プローブ狭い箇所・小さい部位の膜厚測定が可能です＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ＳＷＴ−ＮＥＯ専用 電磁・渦電流式 鉄・非鉄両用プローブ
鉄・非鉄金属素地上の膜厚測が可能です鉄・非鉄金属素地の自動判別可能なデュアルプローブ
鉄・非鉄金属素地上の膜厚測が可能です鉄・非鉄金属素地の自動判別可能なデュアルプローブ＋もっと見る
サンコウ電子研究所 ピンホール探知器 電圧０．３ー５ｋＶ ＴＯ−５ＤＰ １個
フッ素樹脂など数百マイクロ以下の比較的薄い皮膜のピンホール探知に用いられるパワーの低い直流高電圧式の探知器です。電子機器、精密機器等の薄い絶縁性皮膜のピンホール探知、欠陥検査に有効です。
フッ素樹脂など数百マイクロ以下の比較的薄い皮膜のピンホール探知に用いられるパワーの低い直流高電圧式の探知器です。電子機器、精密機器等の薄い絶縁性皮膜のピンホール探知、欠陥検査に有効です。＋もっと見る
