ユニ　Ａ型Ｖブロック　機械仕上　１００ｍｍ　２個１組　ＡＶＫ１００

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です＋もっと見る

ユニ　Ａ型Ｖブロック　機械仕上　１５０ｍｍ　２個１組　ＡＶＫ１５０

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です＋もっと見る

お届け予定日：8月7日(金)

ユニ　Ａ型Ｖブロック　機械仕上　５０ｍｍ　２個１組　ＡＶＫ５０

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です＋もっと見る

ユニ　Ａ型Ｖブロック　機械仕上　７５ｍｍ　２個１組　ＡＶＫ７５

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます・２個１組です＋もっと見る

ユニ　Ａ型Ｖブロック　Ａ級　１５０ｍｍ　２個１組　ＹＡＫ−１５０Ａ　ＡＶＡ１５０

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます＋もっと見る

お届け予定日：8月7日(金)

ユニ　Ａ型Ｖブロック　Ａ級　５０ｍｍ　２個１組　ＹＡＫ−５０Ａ　ＡＶＡ５０

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます

・・Ｖ面は９０°を形成しています・精密罫書用、測定治具等に利用できます・Ａ型は大、中、小の３つのＶ面で測定できます＋もっと見る

お届け予定日：8月7日(金)

ユニ　Ａ型Ｖブロック機械仕上／２個入　ＡＶＫ−５０　０７３４−０１−０００１７０２

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。＋もっと見る

お届け予定日：8月24日(月)

ユニ　Ａ型Ｖブロック機械仕上／２個入　ＡＶＫ−１２５　０７３４−０１−０００１７３２

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。＋もっと見る

お届け予定日：8月20日(木)

ユニ　Ａ型Ｖブロック機械仕上／２個入　ＡＶＫ−１５０　０７３４−０１−０００１７４２

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。＋もっと見る

お届け予定日：8月20日(木)

ユニ　Ａ型Ｖブロック機械仕上／２個入　ＡＶＫ−１００　０７３４−０１−０００１７２２

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。

本器は上質鋳鉄製（ＦＣ２５０）で研磨仕上による精密ヤゲン台（Ｖブロック）です。精密罫書用　測定治具用として使用されます。２個１組となっております。＋もっと見る

お届け予定日：8月20日(木)

ユニ　Ｉ型広幅ストレートエッジ　Ａ級　１０００ｍｍ　ＳＥＩＷ−１０００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　Ｉ型広幅ストレートエッジ　Ａ級　１５００ｍｍ　ＳＥＩＷ−１５００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　Ｉ型広幅ストレートエッジ　Ａ級　２０００ｍｍ　ＳＥＩＷ−２０００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　Ｉ型広幅ストレートエッジ　Ａ級　５００ｍｍ　ＳＥＩＷ−５００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。ＳＥＩＷは水準器を併用し工作機械芯出し、タービンの測定に使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッジ　Ａ級　１５００ｍｍ　ＳＥＩＢ−１５００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッジ　Ａ級　２０００ｍｍ　ＳＥＩＢ−２０００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッジ　Ａ級　２５００ｍｍ　ＳＥＩＢ−２５００

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。研磨仕上げを施しています。平面度・真直度、平行度の検査測定用です。平面度・真直度、平行度の検査測定用。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッヂ　Ａ級　１２００ｍｍ　ＳＥＩＢ１２００　１個

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。＋もっと見る

お届け予定日：8月10日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッヂ　Ａ級　５００ｍｍ　ＳＥＩＢ５００　１個

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。＋もっと見る

お届け予定日：8月10日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッヂ　Ａ級　６００ｍｍ　ＳＥＩＢ６００　１個

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。＋もっと見る

お届け予定日：8月10日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッヂ　Ａ級　７５０ｍｍ　ＳＥＩＢ７５０　１個

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。＋もっと見る

お届け予定日：8月10日(月)

ユニ　ＩＢ型ストレートエッヂ　Ａ級１０００ｍｍ　ＳＥＩＢ１０００　１個

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。

平面度、真直度の測定、ひずみチェックに使用します。＋もっと見る

お届け予定日：8月10日(月)

ユニ　石定盤　脚付　ＴＬＯ−３０４５

経年変化が生じません。事務所、研究室用に移動可能な構造です。ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。事務所、研究室用に。

経年変化が生じません。事務所、研究室用に移動可能な構造です。ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。事務所、研究室用に。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）２５０ｘ２５０ｘ７０ｍｍ　Ｕ０−２５２５

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）３００ｘ３００ｘ１００ｍｍ　Ｕ０−３０３０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）３００ｘ４５０ｘ１００ｍｍ　Ｕ０−３０４５

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）４５０ｘ６００ｘ１００ｍｍ　Ｕ０−４５６０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）５００ｘ５００ｘ１００ｍｍ　Ｕ０−５０５０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（０級仕上）６００ｘ６００ｘ１２５ｍｍ　Ｕ０−６０６０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）２５０ｘ２５０ｘ７０ｍｍ　Ｕ１−２５２５

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）３００ｘ３００ｘ１００ｍｍ　Ｕ１−３０３０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）３００ｘ４５０ｘ１００ｍｍ　Ｕ１−３０４５

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）４５０ｘ６００ｘ１００ｍｍ　Ｕ１−４５６０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）５００ｘ５００ｘ１００ｍｍ　Ｕ１−５０５０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤（１級仕上）６００ｘ６００ｘ１２５ｍｍ　Ｕ１−６０６０

ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。

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お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（機械仕上）４５０ｘ４５０ｘ７５ｍｍ　Ｕ−４５４５

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ａ級仕上）４５０ｘ４５０ｘ７５ｍｍ　Ｕ−４５４５Ａ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ｂ級仕上）４５０ｘ４５０ｘ７５ｍｍ　Ｕ−４５４５Ｂ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（機械仕上）４５０ｘ６００ｘ１００ｍｍ　Ｕ−４５６０

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ａ級仕上）４５０ｘ６００ｘ１００ｍｍ　Ｕ−４５６０Ａ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ｂ級仕上）４５０ｘ６００ｘ１００ｍｍ　Ｕ−４５６０Ｂ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（機械仕上）５００ｘ５００ｘ７５ｍｍ　Ｕ−５０５０

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。機械仕上げは一般作業用（ケガキ作業）です。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ａ級仕上）５００ｘ５００ｘ７５ｍｍ　Ｕ−５０５０Ａ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。精度の高い検査を必要とするときにＡ級を使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　箱型定盤（Ｂ級仕上）５００ｘ５００ｘ７５ｍｍ　Ｕ−５０５０Ｂ

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。

機械仕上げは良質フライス加工、Ｂ級・Ａ級は研磨加工後、キサゲ仕上げで平面精度を上げています。修理可能です。ケガキ台、作業台、測定台として利用可能。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　石定盤スタンド　微動調整付　ＵＢＶ３０３０

経年変化を生じません。事務所、研究室用に移動可能な構造です。ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。事務所、研究室用に移動可能な構造。

経年変化を生じません。事務所、研究室用に移動可能な構造です。ＪＩＳ　Ｂ７５１３規格品です。事務所、研究室用に移動可能な構造。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　円筒スコヤー　２５０ｍｍ　ＵＥＳ−２５０

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　円筒スコヤー　３００ｍｍ　ＵＥＳ−３００

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　円筒スコヤー　３５０ｍｍ　ＵＥＳ−３５０

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　円筒スコヤー　４００ｍｍ　ＵＥＳ−４００

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)

ユニ　円筒スコヤー　５００ｍｍ　ＵＥＳ−５００

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。

精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法などにより直角度比較測定の模範として使用します。＋もっと見る

お届け予定日：9月14日(月)